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SiC/GaNパワー半導体の実装と信頼性評価技術

資料種別:
図書
責任表示:
菅沼克昭編著
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 日刊工業新聞社, 2014.12
形態:
247p ; 21cm
著者名:
菅沼, 克昭 <DA12754778>  
書誌ID:
BB17632156
ISBN:
9784526073397 [4526073393]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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7 図書 半導体装置

Pierce, John Franklin., 和田, 正信(1916-1980), 宮下, 和雄

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