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論理とテスト

資料種別:
図書
責任表示:
樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 岩波書店, 1985.5
形態:
x, 313p ; 22cm
著者名:
シリーズ名:
岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . VLSIの設計||VLSI ノ セッケイ ; 2 <BN00015819>
書誌ID:
BN00059257
ISBN:
9784000101844 [4000101846]  CiNii Books  Webcat Plus  Google Books
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